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蔵書情報

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所蔵数	1	在庫数	1	予約数	0

書誌情報

書名	iOSアプリ開発自動テストの教科書　XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで
著者名	平田敏之／著　細沼祐介／著
出版者	技術評論社
出版年月	2019.7

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No.	所蔵館	資料番号	請求記号	配架場所	所蔵棚番号	資料種別	帯出区分	状態	付録	貸出
1	図書情報館	1310384399	007.63/ﾋ/	２階図書室	WORK-416	一般図書	貸出禁止	在庫		×

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書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード	1008001390739
書誌種別	図書
著者名	平田敏之／著
著者名ヨミ	ヒラタトシユキ
出版者	技術評論社
出版年月	2019.7
ページ数	454p
大きさ	21cm
ISBN	4-297-10629-4
分類記号	694.6
分類記号	007.63
書名	iOSアプリ開発自動テストの教科書　XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで
書名ヨミ	アイオーエスアプリカイハツジドウテストノキョウカショ
副書名	XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで
副書名ヨミ	エックスシーテストニヨルタンタイテストユーアイテストカラシーアイシーディーデバッグギジュツマデ
内容紹介	iOSアプリ開発における自動テストに焦点をあてた一冊。自動テストについての考え方から、XCTestを利用した単体テストやUIテストの作成方法、XcodeやLLDBなどを活用したデバッグ手法までを解説する。
著者紹介	DeNAのSWETグループ所属。iOSやCI/CDに関する領域を主に担当。
件名1	モバイルアプリ
件名2	ソフトウェア工学

内容細目表

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