蔵書情報
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書誌情報
書名 |
iOSアプリ開発自動テストの教科書 XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで
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著者名 |
平田 敏之/著
細沼 祐介/著
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出版者 |
技術評論社
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出版年月 |
2019.7 |
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資料情報
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No. |
所蔵館 |
資料番号 |
請求記号 |
配架場所 |
所蔵棚番号 |
資料種別 |
帯出区分 |
状態 |
付録 |
貸出
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1 |
図書情報館 | 1310384399 | 007.63/ヒ/ | 2階図書室 | WORK-416 | 一般図書 | 貸出禁止 | 在庫 | |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1008001390739 |
書誌種別 |
図書 |
著者名 |
平田 敏之/著
|
著者名ヨミ |
ヒラタ トシユキ |
出版者 |
技術評論社
|
出版年月 |
2019.7 |
ページ数 |
454p |
大きさ |
21cm |
ISBN |
4-297-10629-4 |
分類記号 |
694.6
|
分類記号 |
007.63
|
書名 |
iOSアプリ開発自動テストの教科書 XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで |
書名ヨミ |
アイオーエス アプリ カイハツ ジドウ テスト ノ キョウカショ |
副書名 |
XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで |
副書名ヨミ |
エックスシーテスト ニ ヨル タンタイ テスト ユーアイ テスト カラ シーアイ シーディー デバッグ ギジュツ マデ |
内容紹介 |
iOSアプリ開発における自動テストに焦点をあてた一冊。自動テストについての考え方から、XCTestを利用した単体テストやUIテストの作成方法、XcodeやLLDBなどを活用したデバッグ手法までを解説する。 |
著者紹介 |
DeNAのSWETグループ所属。iOSやCI/CDに関する領域を主に担当。 |
件名1 |
モバイルアプリ
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件名2 |
ソフトウェア工学
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内容細目表
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