検索結果書誌詳細

蔵書情報

この資料の蔵書に関する統計情報です。現在の所蔵数 在庫数 予約数などを確認できます。

所蔵数 1 在庫数 1 予約数 0

書誌情報

書名

材料評価のための分析電子顕微鏡法     

著者名 進藤 大輔/共著   及川 哲夫/共著
出版者 共立出版
出版年月 1999.5


この資料に対する操作

カートに入れる を押すと この資料を 予約する候補として予約カートに追加します。

いますぐ予約する を押すと 認証後この資料をすぐに予約します。

  

この資料に対する操作

電子書籍を読むを押すと 電子図書館に移動しこの資料の電子書籍を読むことができます。


マイ本棚へ追加ログインメモ


資料情報

各蔵書資料に関する詳細情報です。

No. 所蔵館 資料番号 請求記号 配架場所 所蔵棚番号 資料種別 帯出区分 状態 付録 貸出
1 中央図書館0112449574549.9/シ/書庫3一般図書一般貸出在庫  

関連資料

この資料に関連する資料を 同じ著者 出版年 分類 件名 受賞などの切り口でご紹介します。

1999
電子顕微鏡 材料試験

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1001001145661
書誌種別 図書
書名 材料評価のための分析電子顕微鏡法     
書名ヨミ ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ 
著者名 進藤 大輔/共著
著者名ヨミ シンドウ ダイスケ
著者名 及川 哲夫/共著
著者名ヨミ オイカワ テツオ
出版者 共立出版
出版年月 1999.5
ページ数 182p
大きさ 26cm
分類記号 549.97
分類記号 549.97
ISBN 4-320-08524-8
内容紹介 先端材料の構造を評価する手段としての、分析電子顕微鏡法のために、最新の分析電子顕微鏡のハードとソフト、さらに各種の分析技法について詳述。装置の模式図や解析データを多数掲載し、読みやすくした。
件名 電子顕微鏡、材料試験
言語区分 日本語

(他の紹介)内容紹介 本書では、電子顕微鏡関係の研究者に限らず、特に材料開発に携わる研究者や学生にも読みやすいものとするため、数多くの装置の模式図や解析データを掲載した。また、電子顕微鏡のハードの動作原理について詳述するとともに、分析技法としてEELS(電子エネルギー損失分光法)とEDS(エネルギー分散型X線分光法)を中心にその原理と応用について平易に解説している。
(他の紹介)目次 1章 分析電子顕微鏡法の基礎
2章 分析電子顕微鏡の構成と基本操作
3章 電子エネルギー損失分光法(EELS)
4章 エネルギー分散型X線分光法(EDS)
5章 分析電子顕微鏡法の周辺技法


内容細目表

前のページへ

本文はここまでです。


ページの終わりです。