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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
資料番号 |
請求記号 |
配架場所 |
所蔵棚番号 |
資料種別 |
帯出区分 |
状態 |
付録 |
貸出
|
1 |
中央図書館 | 0112449574 | 549.9/シ/ | 書庫3 | | 一般図書 | 一般貸出 | 在庫 | |
○ |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1001001145661 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
材料評価のための分析電子顕微鏡法 |
書名ヨミ |
ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ |
著者名 |
進藤 大輔/共著
|
著者名ヨミ |
シンドウ ダイスケ |
著者名 |
及川 哲夫/共著 |
著者名ヨミ |
オイカワ テツオ |
出版者 |
共立出版
|
出版年月 |
1999.5 |
ページ数 |
182p |
大きさ |
26cm |
分類記号 |
549.97
|
分類記号 |
549.97
|
ISBN |
4-320-08524-8 |
内容紹介 |
先端材料の構造を評価する手段としての、分析電子顕微鏡法のために、最新の分析電子顕微鏡のハードとソフト、さらに各種の分析技法について詳述。装置の模式図や解析データを多数掲載し、読みやすくした。 |
件名 |
電子顕微鏡、材料試験 |
言語区分 |
日本語 |
(他の紹介)内容紹介 |
本書では、電子顕微鏡関係の研究者に限らず、特に材料開発に携わる研究者や学生にも読みやすいものとするため、数多くの装置の模式図や解析データを掲載した。また、電子顕微鏡のハードの動作原理について詳述するとともに、分析技法としてEELS(電子エネルギー損失分光法)とEDS(エネルギー分散型X線分光法)を中心にその原理と応用について平易に解説している。 |
(他の紹介)目次 |
1章 分析電子顕微鏡法の基礎 2章 分析電子顕微鏡の構成と基本操作 3章 電子エネルギー損失分光法(EELS) 4章 エネルギー分散型X線分光法(EDS) 5章 分析電子顕微鏡法の周辺技法 |
内容細目表
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