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書誌情報

書名

iOSアプリ開発自動テストの教科書 XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで    

著者名 平田 敏之/著   細沼 祐介/著
出版者 技術評論社
出版年月 2019.7


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No. 所蔵館 資料番号 請求記号 配架場所 所蔵棚番号 資料種別 帯出区分 状態 付録 貸出
1 図書情報館1310384399007.63/ヒ/2階図書室WORK-416一般図書貸出禁止在庫   ×

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2019
2019
694.6 007.63
モバイルアプリ ソフトウェア工学

書誌詳細

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タイトルコード 1008001390739
書誌種別 図書
書名 iOSアプリ開発自動テストの教科書 XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで    
書名ヨミ アイオーエス アプリ カイハツ ジドウ テスト ノ キョウカショ 
著者名 平田 敏之/著
著者名ヨミ ヒラタ トシユキ
著者名 細沼 祐介/著
著者名ヨミ ホソヌマ ユウスケ
出版者 技術評論社
出版年月 2019.7
ページ数 454p
大きさ 21cm
分類記号 694.6
分類記号 007.63
ISBN 4-297-10629-4
内容紹介 iOSアプリ開発における自動テストに焦点をあてた一冊。自動テストについての考え方から、XCTestを利用した単体テストやUIテストの作成方法、XcodeやLLDBなどを活用したデバッグ手法までを解説する。
著者紹介 DeNAのSWETグループ所属。iOSやCI/CDに関する領域を主に担当。
件名 モバイルアプリ、ソフトウェア工学
言語区分 日本語



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