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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
資料番号 |
請求記号 |
配架場所 |
所蔵棚番号 |
資料種別 |
帯出区分 |
状態 |
付録 |
貸出
|
1 |
中央図書館 | 0113249486 | 501.2/フ/ | 書庫3 | | 一般図書 | 一般貸出 | 在庫 | |
○ |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1001000232227 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
表面と薄膜分析技術の基礎 |
書名ヨミ |
ヒョウメン ト ハクマク ブンセキ ギジュツ ノ キソ |
著者名 |
L.C.フェルドマン/著
|
著者名ヨミ |
L C フェルドマン |
著者名 |
J.W.メイヤー/著 |
著者名ヨミ |
J W メイヤー |
著者名 |
栗山 一男/訳 |
著者名ヨミ |
クリヤマ カズオ |
出版者 |
海文堂出版
|
出版年月 |
1989.6 |
ページ数 |
353p |
大きさ |
22cm |
分類記号 |
501.2
|
分類記号 |
501.2
|
ISBN |
4-303-71200-0 |
件名 |
表面(工学)、薄膜 |
言語区分 |
日本語 |
(他の紹介)内容紹介 |
本書では、イオン、電子、光子等の固体内の振舞いを示すとともに、その結果として生ずる現象を材料分析に応用する際の理論的根拠、分析を行うための装置構成、さらには実際の分析を行う際に遭遇するであろう問題点を、豊富な例題をまじえて解説している。 |
(他の紹介)目次 |
1章 序章―概念、単位、そしてボーア原子 2章 原子衝突と後方散乱法 3章 軽イオンのエネルギー損失と深さプロファイル 4章 スパッタによる深さプロファイル―2次イオン質量分析法 5章 チャネリング 6章 電子‐電子相互作用と分子分光法の深さ感度 7章 表面構造解析 8章 固体中の光子吸収とEXAFS 9章 X線光電子分光法(XPS) 10章 放射遷移と電子マイクロプローブ 11章 非放射遷移とオージェ電子分光法 12章 核技術―放射化分析と即発放射線分析 |
内容細目表
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