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書誌情報

書名

半導体デバイスの不良・故障解析技術   信頼性技術叢書  

著者名 二川 清/編著   上田 修/著   山本 秀和/著
出版者 日科技連出版社
出版年月 2019.12


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書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1008001443780
書誌種別 図書
書名 半導体デバイスの不良・故障解析技術   信頼性技術叢書  
書名ヨミ ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ 
著者名 二川 清/編著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ
著者名 上田 修/著
著者名ヨミ ウエダ オサム
著者名 山本 秀和/著
著者名ヨミ ヤマモト ヒデカズ
出版者 日科技連出版社
出版年月 2019.12
ページ数 8,218p
大きさ 21cm
分類記号 549.8
分類記号 549.8
ISBN 4-8171-9685-9
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
著者紹介 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。
件名 半導体、信頼性(工学)
言語区分 日本語

(他の紹介)内容紹介 Rustの組込み開発に必要な知識を身に付けながら、マイコン「Wio Terminal」を動かしてみよう!組込み開発の概要や開発環境の構築方法はもちろんのこと、Rustの基礎についても解説!マイコン「Wio Terminal」のデバイスを操作するための豊富な実例を掲載!
(他の紹介)目次 1 Rustと組込みシステム
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3 Rustの基本
4 Wio Terminal
5 組込みRustの基礎知識
6 Wio Terminal搭載のデバイスを使う
7 LCD表示
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